Весь час | Останні 5 років | |
---|---|---|
Цитування | 10 | 5 |
h-індекс | 1 | 1 |
i10-індекс | 0 | 0 |
Освіта та кар’єра
1986-1991– Харківський інститут радіоелектроніки за спеціальністю «Радіотехніка»
2008 – кандидат технічних наук за спеціальністю метрологія та метрологічне забезпечення
2013 – старший науковий співробітник за спеціальністю стандартизація, сертифікація та метрологічне забезпечення
2020 – доктор технічних наук за спеціальністю стандартизація, сертифікація та метрологічне забезпечення
1991-1997 – інженер 1,2,3 категорії Харківського державного науково-дослідного інституту метрології
1997-2004 – молодший науковий співробітник ДНВО «Метрологія» Держстандарту України
2004 – 2005 – виконуючий обов’язки наукового співробітника ННЦ «Інститут метрології»
2005-2008 – науковий співробітник ННЦ «Інститут метрології»
2008-2009 – старший науковий співробітник ННЦ «Інститут метрології»
2009-2023 – учений секретар
2023 по теперішній час в.о. Генерального директора ННЦ «Інститут метрології»
Відомості про захист дисертації:
Кандидатська дисертація «Методи та засоби забезпечення єдності вимірювання об’ємної активності радону 222 в Україні». Захист 23.10.2008. спеціальність 05.11.15 на засіданні спеціалізованого вченої ради Д64.827.01 ННЦ «Інститут метрології».
Докторська дисертація «Розвиток методів вимірювань характеристик складних механічних і теплофізичних систем на основі комп’ютерного моделювання». Захист 16.10.2020 на засіданні спеціалізованого вченої ради Д64.827.01 ННЦ «Інститут метрології».
Освітня діяльність
Лекційні курси: «Основи теорії ймовірності та математичної статистики», «Державні еталони України»
Наукова діяльність
Почесний знак «За заслуги» Міждержавної Ради по стандартизації, метрології та сертифікації.
Здійснює підготовку аспірантів за спеціальністю 175 – Інформаційно-вимірювальні технології.
Член спеціалізованої вченої ради Національний університет «Одеська політехніка» Д 41.052.09.
Міжнародна діяльність / участь у міжнародних проектах
Учасник чотирьох міжнародних проектів з метрології.
Публікації та патенти
Понад 90 праць в галузі метрології, метрологічне забезпечення, комп’ютерне моделювання складних систем