Радіохвильова й інфрачервона діагностика матеріалів, середовищ і об’єктів

Основним науковим напрямком діяльності є створення новітніх методів і технічних засобів широкоформатної фізико-технічної діагностики функціональних матеріалів електроніки, технологічних середовищ у різних виробництвах, включаючи агропромисловість та біотехнології.

Наукова школа заснована у 1970 р. доктором фізико-математичних наук, професором, академіком Міжнародної академії прикладної радіоелектроніки, Заслуженим діячем науки і техніки України Юрієм Омеляновичем Гордієнком.

Відомі представники наукової школи: доктори наук М.І. Сліпченко, В.В. Старостенко, В.Л. Костенко, В.П. Оксаніч, О.Ю. Панченко та інші.

Домінуючі наукові концепції базуються на теоретичному та експериментальному вивченні особливостей взаємодії електромагнітних коливань та хвиль НВЧ і ІЧ діапазонів з об’єктами дослідження чи технічного контролю.

Актуальність проведених наукових досліджень пов’язана зі створенням нових високоефективних безелектродних методів та приладів неруйнівного багатопараметрового контролю напівпровідникових матеріалів та плівкових структур для розробки і виробництва напівпровідникових приладів та інтегральних схем різного призначення. За результатами відповідних досліджень створені також новітні датчики різних фізичних величин, таких як вміст вологи в об’єкті і середовищі, ступінь спонтанної чи стимульованої кристалізації матеріалів, безконтактної товщинометрії різних плівок тощо.

Із нововведень, що розроблені в рамках діяльності школи, слід відзначити обґрунтуваннята впровадження в практику НВЧ діагностики апертурних резонаторних вимірювальних перетворювачів, на основі яких побудовано широкий спектр датчиків і приладів неруйнівного контролю матеріалів.

Найбільш цікавим для сучасності є розробка теорії і техніки скануючої мікрохвильової мікроскопії на базі резонаторних зондів з коаксіальною мікроапертурою.

зберегти цю сторінку в PDF